Lastnosti vrstične elektronske mikroskopije (sem) kot metode za preučevanje in karakterizacijo vzorcev

avtor: Marko JERAN, Mitja DRAB, Bernard VERŠNJAK, Samo KOŠIR

V prispevku avtorji opisujemo lastnosti in praktično uporabo vrstične elektronske mikroskopije (angl. Scanning Electron Microscopy), ki se v velikem obsegu uprablja na različnih področjih naravoslovnih znanosti. Vrstični elektronski mikroskopiji kot karakterizacijski metodi lahko pripišemo visoko ločljivost in veliko globinsko ostrino. Uporabljamo jo lahko pri opazovanju različnih materialov, preučevanju struktur in fragmentov pri velikih povečavah.

Članek je dosegljiv naročnikom revije v PDF obliki.